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回流焊曲线全面解析-炉温曲线测试仪

发布日期:2018-05-07 内容来源于:http://www.szsanao.com/

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再流焊的本质就是“热加工”,其工艺的核心就是温度曲线设计。温度曲线是指工艺人员根据所需要焊接的代表性封装(元件)及焊膏特性制定的“温度-时间”变化曲线。通过链条传送PCB速度和不同温区的温度设置来实现。

把设置温度放置在温度曲线力中并连接就形成一条折线,称为炉温折线。需要注意的是:温度曲线是回流过程中封装或PCB板上的实际温度变化,而炉温折线是回流炉各温区的温度设置,前者是目的,后者是手段。“温区-炉温折线-温度曲线”的相互关系如下图所示:

2

工艺窗口与工艺窗口指数

  • 工艺窗口(Process Window),通常用来描述工艺参数调整极限范围或用户规格范围(USL-LSL),最大允许值与最小允许值之间的区域。

  • 工艺窗口指数(Process Window Index, PWI),是衡量用户确定的工艺极限范围内工艺能力适应程度的指标,换句话说,就是使用工艺窗口的最大百分比,用于简单说明工艺是否满足技术规范的要求,其值基本上是Cp倒数的百分比。PWI越大,工艺稳定性越差,反之亦然。

3

温度曲线解析

温度曲线,根据功能一般可划分为四个区:升温区、保温区、再流焊区和冷却区,其中再流焊区为核心区。

温度曲线,一般以预热温度、保温时间、焊接峰值温度和焊接时间来描述,关键参数如下:


· 预热开始温度Tsmin;

· 预热结束温度Tsmax;

· 焊接最低峰值温度Tpmin;

· 焊接最高峰值温度Tpmax;

· 保温时间ts;

· 焊接时间tL;

· 焊接驻留时间Tp;

· 升温速率v1&v2;

· 冷却速率v3。

关键参数的设置原则

01

预热

预热的作用主要有三个:蒸发焊剂中的挥发性成分;减少焊接时PCBA各部位的温度差;助焊剂活化。

  • 预热开始温度(Tsmin),一般没有特别的要求,通常比预热结束温度(Tsmax)低50℃左右;

  • 预热结束温度(Tsmax)为焊膏熔点以下20~30℃,通常200℃左右。

  • 保温时间(ts),一般在2~3min。确保PCBA在进入再流焊阶段前达到热平衡。从经验看,只要不超过5min,一般不会出现焊剂提前失效问题。

02

焊接峰值温度

  • 焊接峰值温度,由于PCB上每种元件封装的结构与尺寸不同,而且分布密度也不均匀,所以测试温度曲线不是一根曲线,而是一组曲线。

  • 温度曲线的设计原则是所有元器件的焊接峰值温度,既不能高于元件的最高耐热温度也不能低于焊接的最低温度要求。通常比焊膏熔点高11~12℃并小于260℃(无铅元器件),在此前提下我们希望焊接的温度越低越好。

  • 较高的温度出现在热容量比较小的元件上(如0402等),较低的温度出现在热容量较大的元件上(如BGA等)。

03

焊接时间

焊接时间主要取决于PCB的热特性和元器件的封装,只要能够使所有焊点达到焊接温度以及BGA焊锡球与熔融焊膏熔合均匀并达到热平衡即可。

焊接的时间,对于一个普通的焊点而言3~5s足够;对于一块PCBA来说,需综合考虑所有的焊点;同时,还必须考虑减少PCBA不同部位的温度差以减少热冲击或热变形。因此,PCBA的焊接与单点的焊接有本质的差别,焊接时间会大大延长。


  • 不同温度、时间下的BGA焊点的微观结构

    随着温度的升高,无铅焊球中Ag3Sn、Cu6Sn5相会进一步细化,金属间化合物(IMC)会变得持续生长。如果温度过高,也会使BGA焊球塌落过度,影响可靠性。特别是那些带有金属散热壳的BGA。

    不同温度、时间下形成的BGA焊点的形态取决于焊料与焊球的混合程度以及混合合金的表面张力,如果混合不均、表面张力不够,就不会形成鼓形的焊点,甚至带有硬过渡的外形。

04

升温速率(v1)

升温速率(v1),主要影响焊膏溶剂的挥发,过高,容易引起焊锡膏飞溅,从而形成锡球。因此一般要求控制在1~2℃/s。

升温速率(v2),是一个关键参数,对一些特定焊接缺陷有直接的影响,过高容易引发锡珠、立碑、偏斜和芯吸。一般要求尽可能的低,最好不要超过2℃/s。

05

冷却速度

IPC/JEDEC-020C标准对业界能接受的冷却速率做了规定,该标准将3-6℃作为冷却速率的范围。但这样的规定实际上存在很大的风险,特别是焊接BGA器件时,如果冷却速率达到4.5℃/s以上时,很可能导致焊点断裂!

一般而言,较厚的塑封BGA需要慢速冷却,甚至需要热风慢冷,因为它是一个典型的双层结构且容易吸潮。实际案例表明,如果冷却速率小于等于2℃/s,就容易发生收缩断裂了。

06

特定封装的特别要求

  • BGA器件,焊接最低峰值温度必须达到二次塌落所需要温度(熔点+11~12℃);必须有足够的焊接时间,以便BGA封装体达到基本的热平衡,避免BGA在严重变形状态下焊接。下衅焊接时间比较长,这主要因为现在使用的BGA越来越大,必须有足够的时间保证BGA焊点在封装接近热平衡条件下凝固。

  • 0201等微型片式元件,主要的焊接问题是立碑和葡萄球现象。

一个减少立碑现象的措施就是减小熔点以下10℃到熔点之间的升温速率,如无铅焊接工艺条件下,需要适当降低再流焊接温度曲线上200~220℃区间的升温速率。

葡萄球现象是无铅、微焊盘焊接带来的新问题。一般而言,焊盘尺寸小,相应印刷的焊膏也少。焊膏少,其含有的焊剂总量也随之减少,去除氧化物的能力不足,很容易发生葡萄球现象。因此,在温度曲线设置时需还要适当减少预热的总时间,避免焊膏表面焊粉的过度氧化。

  • 密间距器件,如0.4mmQFP容易桥连,要尽量减少热坍塌现象的发生,这就需要减少高温预热阶段的停留时间。

4

温度曲线的设计和优化

温度曲线的设计和优化,请参考往期文章怎样制作一个漂亮的测温板?


5

温度曲线评价

相关标签: 炉温测试仪 炉温跟踪仪

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